更新時間：2024-05-06
產(chǎn)品型號：XRS-CS150
廠家性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問次數(shù)：986
DP-CS電化學(xué)工作站采用全浮地式設(shè)計，具有出色的穩(wěn)定性和精確度，先進(jìn)的硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。具體應(yīng)用于：（1） 電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化、電解等反應(yīng)機(jī)理研究；（2）電化學(xué)分析研究；（3）能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等）、先進(jìn)功能材料以及傳感器的性能研究；
DP-CS電化學(xué)工作站采用全浮地式設(shè)計，具有出色的穩(wěn)定性和精確度，先進(jìn)的硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。
具體應(yīng)用于：
（1） 電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化、電解等反應(yīng)機(jī)理研究；
（2）電化學(xué)分析研究；
（3）能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等）、先進(jìn)功能材料以及傳感器的性能研究；
（4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價；
（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評價。
硬件特點
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V（可擴(kuò)展至±200V）
● 電流控制范圍：±2.0A（可擴(kuò)展至±5.0A）
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：10pA（可延伸至100fA）
軟件特點
① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運算，計算各氧化還原峰的峰高、峰面積和峰電位等；
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析，計算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，極限擴(kuò)散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學(xué)噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲
實時存儲測量數(shù)據(jù)，即使因斷電導(dǎo)致測試中斷，中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量
測試軟件具有定時測量功能， 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時，可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間，讓儀器在無人值守下自動定時測量，提高實驗效率。
恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：<10pA |
電位上升時間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程：2A～200nA, 共8檔 |
參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 最大輸出電流：2.0A |
槽壓輸出：±21V | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
SWV頻率：0.001～100KHz | CV的最小電位增量：0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz | 電流與電位量程：自動設(shè)置 |
DA分辨率：16bit，建立時間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
信號發(fā)生器 | |
頻率響應(yīng)：10μHz～115KHz | 交流信號幅值：1mV～2500mV |
頻率精確度：0.005% | 直流偏壓：-10V～+10V |
DDS輸出阻抗：50Ω | 波形：正弦波，三角波，方波 |
正弦波失真率：<1% | 掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降 |
信號分析器 | |
最大積分時間：106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
最小積分時間：10mS 或者一個循環(huán)的最長時間 | |
直流偏置補(bǔ)償 | |
電位補(bǔ)償范圍：-10V～+10V | 電流補(bǔ)償范圍：-1A～+1A |
帶寬調(diào)整：自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào) | |
功能方法 | HAD-CS120 | HAD-CS150 | HAD-CS300 | HAD-CS310 | HAD-CS350 | HAD-CS360 | |
穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位測量（OCP） | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
恒電位極化（i-t曲線） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
恒電流極化 | ● | ● | ● | ● | ● | ||
動電位掃描（TAFEL曲線） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
動電流掃描（DGP） | ● | ● | ● | ● | ● | ||
暫態(tài)極化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
任意恒電流階梯波 | ● | ● | ● | ● | ● | ||
恒電位階躍（VSTEP） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
恒電流階躍（ISTEP） | ● | ● | ● | ● | ● | ||
快速電位脈沖 | ● | ||||||
快速電流脈沖 | ● | ||||||
計時分析 | 計時電位法（CP） | ● | ● | ● | ● | ||
計時電流法（CA） | ● | ● | ● | ● | |||
計時電量法（CC） | ● | ● | ● | ● | |||
伏安分析 | 線性掃描伏安法（LSV） | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
線性循環(huán)伏安法（CV） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
階梯循環(huán)伏安法（SCV） | ● | ● | ● | ||||
方波伏安法（SWV） | ● | ● | ● | ||||
差分脈沖伏安法（DPV） | ● | ● | ● | ||||
常規(guī)脈沖伏安法（NPV） | ● | ● | ● | ||||
常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV） | ● | ● | ● | ||||
交流伏安法（ACV） | ● | ● | ● | ||||
二次諧波交流伏安（SHACV） | ● | ● | ● | ||||
溶出伏安 | 恒電位溶出伏安 | ● | ● | ● | |||
線性溶出伏安 | ● | ● | ● | ||||
階梯溶出伏安 | ● | ● | ● | ||||
方波溶出伏安 | ● | ● | ● | ||||
交流阻抗 | 電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描 | ● | ● | ● | |||
電化學(xué)阻抗（EIS）～時間掃描 | ● | ● | ● | ||||
電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線） | ● | ● | ● | ||||
腐蝕測量 | 循環(huán)極化曲線（CPP） | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
線性極化曲線（LPR） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
電化學(xué)噪聲（EN） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
電偶腐蝕測量（ZRA） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
氫擴(kuò)散測試（HDT）* | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
電池測量 | 電池充放電測試 | ● | ● | ● | ● | ● | |
恒電流充放電 | ● | ● | ● | ● | ● | ||
光電測量 | 電致調(diào)光測量 * | ● | ● | ||||
光譜儀測量 * | ● | ● | |||||
擴(kuò)展測量 | 盤環(huán)電極測試 * | ● | ● | ● | ● | ||
數(shù)字記錄儀 | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
波形發(fā)生器 | ● | ● | ● | ● | |||
圓盤電機(jī)控制 | ● | ● | ● | ● | |||
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